現(xiàn)有的界面張力測(cè)試技術(shù)通常包括了稱(chēng)重法、光學(xué)法、大氣泡法或滴體積法等等，而光學(xué)方法目前是*一種可以用于如超高溫條件1600、2000度這樣的高溫或高壓條件100Mpa或真空環(huán)境（加惰性氣體環(huán)境）下測(cè)試的方法。從硬件技術(shù)來(lái)講，目前的高溫爐及高壓爐技術(shù)均已經(jīng)成熟，研制出來(lái)不是很大問(wèn)題。而軟件技術(shù)方面，目前仍停留在相當(dāng)?shù)偷囊粋€(gè)水平上。雖然在國(guó)內(nèi)的應(yīng)用上，已經(jīng)有一些在高溫或真空環(huán)境下測(cè)試界面化學(xué)性質(zhì)有一些研究，但大部分研究停留在表征接觸角方面。雖然有一些研究人員使用了國(guó)外的一些儀器如德國(guó)Kruss或其他同類(lèi)產(chǎn)品，但是，由于界面化學(xué)軟件算法方面不足，實(shí)際指導(dǎo)意義可能不是很大。
美國(guó)科諾中國(guó)研發(fā)中心于2011年研制成功了第四代液滴影像分析法RealDrop™技術(shù)，可以通過(guò)非接觸技術(shù)，拍攝液滴的外形，再使用算法直接計(jì)算得出液體或熔液的表面張力值、接觸角值等，此測(cè)值考慮了重力因素、Lapalace壓、液體表面張力等綜合因素，測(cè)值精度高。而作為現(xiàn)有的技術(shù)，我們認(rèn)為由于存在一定的不足，實(shí)際應(yīng)用意義并不很大。主要體現(xiàn)為：
1、通過(guò)簡(jiǎn)單的高寬法或量角法或圓擬合法技術(shù)分析接觸角技術(shù)，由于液滴體積或熔液的體積控制不好，通常測(cè)試誤差比較大，僅僅作為一個(gè)簡(jiǎn)單的對(duì)比數(shù)據(jù)用表征接觸角使用，而實(shí)際應(yīng)用指導(dǎo)意義不大。
2、現(xiàn)有國(guó)外部分儀器廠商雖然提供了Sessiledrop（停滴法）技術(shù)測(cè)試這些環(huán)境下的液體界面張力值，但其算法或停于*代基于BA表法的Young-lapalace擬合，或停于第二代基于Select plane算法的經(jīng)驗(yàn)值基礎(chǔ)上的簡(jiǎn)單快速法Young-lapalace擬合技術(shù)（參考Springer&BihaiSong相關(guān)文獻(xiàn)或德國(guó)Kruss DSA1操作手冊(cè)），測(cè)值前提較多，作為測(cè)值的意義并不很大。
而第四代液滴影像分析法技術(shù)真正解決了前提假設(shè)，真正依據(jù)液滴的輪廓與理論液滴YL計(jì)算曲線(xiàn)小二乘擬合，一次擬合計(jì)算得出包括界面張力、接觸角、頂點(diǎn)曲率半徑、體積、面積、潤(rùn)濕線(xiàn)等8個(gè)未知或需求解參數(shù)，測(cè)值精度非常高。
如需要相關(guān)技術(shù)，煩請(qǐng)的技術(shù)人員。我們也歡迎一切友好的合作需求。
